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熒光X射線鍍層厚度測量儀測厚儀

產品簡介

X熒光鍍層測厚儀(yi) 無損測量電子電鍍 五金電鍍 半導體(ti) 及連接器端子等多方麵的電鍍層膜厚

產品型號:
更新時間:2025-01-08
廠商性質:生產廠家
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產地類別進口應用領域綜合

FISCHER(菲希爾)XAN120膜厚儀(yi) 是一台款現代化桌上X射線老伟德官网网站下载手机版(EDXRF)。它特別為(wei) 快速無損地分析珠寶首飾、貴金屬而設計。這些首飾和貴金屬包括黃白金,鉑和銀,銠,硬幣以及所有的首飾合金和鍍層。
XAN120測量準確,使用安全簡便,堅固耐用節省維護費用。而且,它符合標準DIN ISO 3497 和 ASTM B 568。高分辨矽-PIN-接收器,配合快速信號處理係統能達到*的精確度和非常低的檢測限。隻需短短數秒鍾,所有從(cong) 17號元素氯到92號元素鐳的所有元素都能準確測定。
無論您想測量未知樣品還是測定未知材料,XAN? 120 配合優(you) 異的菲希爾 WinFTM? 運行軟件都是您正確的選擇。
FISCHER(菲希爾)XAN120膜厚儀(yi) 采用新改進的基本參數法,無論是無標準片測量還是有標準片測量,都能快速並且準確的獲得測量結果。為(wei) 了簡化樣品放置,X射線源和高分辨矽-PIN-接收器置於(yu) 了 XAN 120 的底部,從(cong) 而可以采用射線向上的測量技術。集成了含十字線、射線位置指示標誌、光亮及位置調節的視頻顯微係統,將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易。現在您不再需要調節測量台或是樣品台——隻需放下樣品即可開始測量。
可測量.單層.雙層,合金層等多種鍍層.

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