熒光光譜鍍層厚度測量儀膜厚測試儀

德國菲希爾熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi)

熒光光譜鍍層厚度測量儀(yi) 膜厚測試儀(yi) 優(you) 點

德國設計 ，技術先進

一個(ge) 軟件實現鍍層厚度測量和材料分析兩(liang) 個(ge) 功能

擴展統計功能。例如，測量結果可以記錄並轉為(wei) SPC圖表顯示

圖像識別：WinFTM可以自行查找預設的測量位置

基於(yu) 基本參數分析的無標準片測量：在手邊樣本組成未知的情況下實現精確的測量結果

距離控製測量（DCM）：允許通過快速更改測量距離，在不需要設置和校準另一個(ge) 測量任務的情況下，測量不同高度的測試部件。軟件能夠識別測量的距離，並自動校正評估。

測量質量：我們(men) 的儀(yi) 器可以判斷您的測量質量。錯誤地選擇了錯誤的測量任務或測量了錯誤的樣品？您的FISCHERSCOPE儀(yi) 器會(hui) 提醒您

任務程式：隻需單擊一下，幾乎可以對WinFTM軟件中執行的所有操作進行編程並執行。例如，一項任務可以自動測量多個(ge) 合金樣品。 X射線儀(yi) 器將XY工作台移動到樣品位置，加載每個(ge) 合金特定的測量條件，最後根據您的需要生成測試報告

FISCHERSCOPE X射線熒光儀(yi) 器

在無損無接觸的塗層厚度測量和材料分析領域，FISCHERSCOPE X射線儀(yi) 器是理想的選擇。自1983年以來，我們(men) 的X射線儀(yi) 器已成為(wei) 幾乎所有主要行業(ye) 質量測試的一個(ge) 組成部分。我們(men) 的儀(yi) 器以其精確性、準確性和耐用性而聞名。同時，FISCHERSCOPE X射線的設計易於(yu) 使用，並在測量的各個(ge) 方麵為(wei) 您提供支持。 這使您可以專(zhuan) 注於(yu) 手頭上的質量工作，而不是測量儀(yi) 器上。

我們(men) 的X射線儀(yi) 器配有專(zhuan) 用的FischerWinFTM軟件，旨在規範測量過程。這包括控製X射線、實現測量的可追溯性、生成個(ge) 性化測量報告以及與(yu) 內(nei) 部網絡交互。

我們(men) 種類齊全的X射線設計用於(yu) 高可靠性地測量不同的應用。電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領域的公司以及更多的公司都依賴於(yu) FISCHERSCOPE X射線儀(yi) 器進行質量控製。現在就來看看我們(men) 的X光儀(yi) 器並找出原因吧！

德國菲希爾熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi)

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 230
熒光光譜鍍層厚度測量儀(yi) 膜厚測試儀(yi) ，采用手動方式，測量和分析印刷電路板、防護及裝飾性鍍層及大規模生產(chan) 的零部件上的鍍層。


FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® 237
X 射線熒光材料分析及鍍層測厚儀(yi) ，配備可編程運行 X/Y 工作台及 Z 軸升降係統，全自動測量超薄鍍層厚度和分析材料成分。


FISCHERSCOPE® X-RAY XULM® 240
X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀(yi) ，用於(yu) 無損測量鍍層厚度及分析材料成分


FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 252
高性能X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀(yi) ，用於(yu) 快速、無損分析材料成分及測量鍍層厚度